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厚膜光刻膠
·膜厚: 5-17um
·陡直度:75-88°可調(diào)
·高感度及工藝寬容度
·高耐熱性
電子束光刻膠
電子束光刻膠具有分辨率高、靈敏度好、抗刻蝕能力強等優(yōu)點,適用于多樣的電子束光刻工藝。當前可穩(wěn)定地實現(xiàn)工藝節(jié)點在30~100nm及以上的分辨率,曝光劑量50~300μC/cm2。
·高分辨率
·高靈敏性
·刻蝕選擇比好
·與基底兼容好
KrF光刻膠
KrF光刻膠適用于多種KrF工藝,Line/Trench KrF光刻膠,分辨率0.2μm,DOF>400nm;28nm離子注入層KrF膠,分辨率0.14μm,DOF>250nm;通孔KrF膠,分辨率可達0.18μm,DOF>600nm。
· 高分辨率
· 適合多種結(jié)構(gòu)
· 工藝窗口大
· 形貌陡直
金屬剝離膠
金屬剝離膠具備高熱穩(wěn)定性,與其他光刻膠涂層兼容,可于TMAH或KOH中顯影,易被光刻膠剝離液去除。目前在工藝中可形成幾微米內(nèi)的雙影效果,可應用于金屬剝離工藝
·內(nèi)切結(jié)構(gòu)易控制
·內(nèi)切隨溫度變化小
·易于去邊
·填充性能好
·被剝離液去除
·與基底兼容好
I-line光刻膠-IP100系列
·膜厚:640-1500nm
·分辨率:0.35um
·陡直度高
·高寬比>3
負性光刻膠-SN1000系列
·膜厚范圍: 8-16μm
·靈敏度(150~250mJ/cm 2 )
·高分辨率(< 2μm)和高深寬比 > 5
·涂布性能好
Remover 300 系列去膠液
Remover 300 去膠液可以應用于傳統(tǒng)半導體、化合物半導體、芯片封裝制造制程中的光刻膠、灰化/刻蝕殘渣去除。該產(chǎn)品具有去膠速度快、 使用壽命長、對金屬腐蝕弱等優(yōu)點,主要應用于半導體前道、無線設(shè)備、光電子器件、MEMS和封裝等領(lǐng)域。
·高速去膠能力 5-20Min。
·去膠后可直接純水沖洗。
·使用周期 Bath Lift 長(正常條件下 24 hours)。
·不含氟化物及羥胺。
BTM系列鍵合膠性能
·良好的成膜性能
·耐<300℃工藝條件
·強的結(jié)合力
·熱和機械解鍵合
·低的鍵合壓力
·低的解鍵合拉力
·耐濕化學試劑
·易清洗
配套超純電子溶劑
厚膜光刻膠
·膜厚: 5-17um
·陡直度:75-88°可調(diào)
·高感度及工藝寬容度
·高耐熱性
電子束光刻膠
電子束光刻膠具有分辨率高、靈敏度好、抗刻蝕能力強等優(yōu)點,適用于多樣的電子束光刻工藝。當前可穩(wěn)定地實現(xiàn)工藝節(jié)點在30~100nm及以上的分辨率,曝光劑量50~300μC/cm2。
·高分辨率
·高靈敏性
·刻蝕選擇比好
·與基底兼容好
KrF光刻膠
KrF光刻膠適用于多種KrF工藝,Line/Trench KrF光刻膠,分辨率0.2μm,DOF>400nm;28nm離子注入層KrF膠,分辨率0.14μm,DOF>250nm;通孔KrF膠,分辨率可達0.18μm,DOF>600nm。
· 高分辨率
· 適合多種結(jié)構(gòu)
· 工藝窗口大
· 形貌陡直
金屬剝離膠
金屬剝離膠具備高熱穩(wěn)定性,與其他光刻膠涂層兼容,可于TMAH或KOH中顯影,易被光刻膠剝離液去除。目前在工藝中可形成幾微米內(nèi)的雙影效果,可應用于金屬剝離工藝
·內(nèi)切結(jié)構(gòu)易控制
·內(nèi)切隨溫度變化小
·易于去邊
·填充性能好
·被剝離液去除
·與基底兼容好
I-line光刻膠-IP100系列
·膜厚:640-1500nm
·分辨率:0.35um
·陡直度高
·高寬比>3
負性光刻膠-SN1000系列
·膜厚范圍: 8-16μm
·靈敏度(150~250mJ/cm 2 )
·高分辨率(< 2μm)和高深寬比 > 5
·涂布性能好
Remover 300 系列去膠液
Remover 300 去膠液可以應用于傳統(tǒng)半導體、化合物半導體、芯片封裝制造制程中的光刻膠、灰化/刻蝕殘渣去除。該產(chǎn)品具有去膠速度快、 使用壽命長、對金屬腐蝕弱等優(yōu)點,主要應用于半導體前道、無線設(shè)備、光電子器件、MEMS和封裝等領(lǐng)域。
·高速去膠能力 5-20Min。
·去膠后可直接純水沖洗。
·使用周期 Bath Lift 長(正常條件下 24 hours)。
·不含氟化物及羥胺。
BTM系列鍵合膠性能
·良好的成膜性能
·耐<300℃工藝條件
·強的結(jié)合力
·熱和機械解鍵合
·低的鍵合壓力
·低的解鍵合拉力
·耐濕化學試劑
·易清洗
配套超純電子溶劑